显微镜知识库

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显微镜知识库

徕卡显微系统的知识库提供有关显微镜学科的科学研究和教学材料。内容旨在对显微镜初学者、有经验的显微镜操作实践者和使用显微镜的科学家在他们的日常工作和实验有所帮助。这里有探索交互式教程和应用笔记,你可以找到你需要的显微镜的基础知识以及前沿技术——快来加入徕卡显微知识社区,分享您的专业知识!
Particles observed on the surface of a particle trap which could be used for technical cleanliness during battery production.

生产过程中电池颗粒检测

本文介绍了如何利用光学显微镜快速、可靠且经济有效地进行电池颗粒检测与分析。
THUNDER image of brain-capillary endothelial-like cells derived from human iPSCs (induced pluripotent stem cells) where cyan indicates nuclei and magenta tight junctions.

利用多孔板中的细胞培养支撑物对干细胞进行动态研究

本文展示了如何使用THUNDER成像仪高效地对设置在多孔板中的细胞支撑物上的活细胞进行成像,以检查细胞生长情况。
Masson-Goldner staining of a hedgehog brain slice.

如何优化您的组织学工作流程

简化您的组织学工作流程。独特的 Fluosync 检测方法内置于Mica中,可实现单次高分辨率 RGB 彩色成像。
Electronic component

目视检查面临的主要挑战

本文讨论使用显微镜进行目视检查和返工时遇到的挑战。使用正确类型的显微镜和光学设置对于优化工作流程和增加产量至关重要。使用显微镜进行目视检查和返工时可能遇到的挑战包括确定适当的放大倍率和照明以及有足够大的工作距离。然而,其他关键因素与工作流程优化、有效报告结果和用户培训以及检查过程中的用户舒适度有关。Leica数码和体视显微镜能够提供一系列完整的解决方案,帮助您克服这些挑战,提供更有效的检查和返工。
Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.

横截面切片法分析IC芯片的结构与化学成分

从本文中了解如何通过横截面分析法对集成电路 (IC) 芯片等电子元件进行有效的结构和元素分析。探索如何通过研磨系统进行铣削、锯切、磨削和抛光工艺以及用于同时进行目视检测和化学分析的二合一解决方案来完成的。可针对电子行业的各种工作流程和应用实现快速、详细的材料分析,包括竞争分析、质量控制 (QC)、故障分析 (FA) 以及研发 (R&D)。
Microscopy for neuroscience research

神经科学显微镜面临哪些挑战?

显微镜是神经科学研究领域的强大工具。不过,当涉及到对神经过程进行成像以及使用不同的样品类型(例如厚神经组织或脑类器官)时,科研人员可能会面临到很多挑战。这本30页的电子书包含众多真实的案例,以讨论我们最常见到的一些挑战,同时展示了如何使用THUNDER 成像技术克服这些挑战。

FLUOSYNC - 一种快速而温和的多色光谱拆分成像方法

在本白皮书中,我们重点介绍如何使用一种快速、可靠的方法在荧光显微镜下获得高质量多通道图像。FluoSync 将现有的光谱混合拆分方法与同步采集多个光谱探测范围相结合,一步到位。这样,多个荧光团可同时成像,而且无需担心荧光串扰、滤光片的选择或在高速成像下损失重要光子的问题。从样本中获得真正的信号从未如此容易。
Projection of a confocal z-stack. Sum159 cells, human breast cancer cells kindly provided by Ievgeniia Zagoriy, Mahamid Group, EMBL Heidelberg, Germany. Blue–Hoechst - indicates nuclei, Green–MitoTracker mitochondria, and red–Bodipy - lipid droplets

低温光学显微镜的新成像工具

荧光显微镜图像能够为cryo-FIB加工提供定位支持,其质量决定了所制备薄片的结果。本文描述了LIGHTNING技术是如何显著提高图像质量,以及如何利用该技术基于荧光寿命的信息来辨别样品的不同结构。
Correlation of markers in the LM and the FIB image.

如何对荧光结构三维定位以进行冷冻FIB切片

冷冻ET(电子断层扫描)是一种专用的透射电子显微镜技术,可以重建观察区域的三维体积。借助先进的冷冻EM(电子显微镜),图像分辨率可以提升到令人难以置信的亚纳米等级。因此,可以在细胞内的原生环境中研究蛋白质以及其他生物分子,从而揭示尚未探明的分子机制。由于细胞和组织必须薄到能够透过电子,样品必须进行切片以获取足够薄的样品体积(薄层)。为对样品中的靶区进行精确的三维定位,冷冻共聚焦显微镜是必不可少的工…
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