显微镜知识库

徕卡显微系统的知识库提供有关显微镜学科的科学研究和教学材料。内容旨在对显微镜初学者、有经验的显微镜操作实践者和使用显微镜的科学家在他们的日常工作和实验有所帮助。这里有探索交互式教程和应用笔记，你可以找到你需要的显微镜的基础知识以及前沿技术——快来加入徕卡显微知识社区，分享您的专业知识！

Images of the same area of a processed wafer taken with standard (left) and oblique (right) brightfield illumination using a Leica compound microscope. The defect on the wafer surface is clearly more visible with oblique illumination.

显微镜不同观察方法下的快速半导体检测

已刻蚀的晶圆和集成电路（IC）在生产过程中的半导体检测对于识别和减少缺陷非常重要。

Intensity distribution (arbitrary color coding) of an image of two points where the distance between them corresponds to the Rayleigh criterion.

显微镜分辨率：概念、因素和计算

在显微镜学中，‘分辨率’一词用于阐述显微镜对细节进行区分的能力。换言之，这是样本内两个能被观察人员或者显微镜摄像头区分的实体点之间的最小距离。显微镜的分辨率本质上与光学元件的数值孔径（NA）以及用于观察样本标本的光波长有关。此外，我们必须考虑Ernst Abbe于1873年首次提出的衍射极限。本文章包含了这些概念的历史介绍并使用相对简单的术语对其进行了解释。

A 17th-century compound microscope (© Golub Collection – University of California, Berkeley/Steven Ruzin, Curator)

光学显微镜简史

显微镜的历史始于中世纪。早在11世纪，阿拉伯世界就使用抛光绿柱石制成的平凸透镜作为阅读石来放大手稿。然而，将这些透镜发展成显微镜并非某一个人的功劳，而是众多科学家和学者共同努力的结果。

表达 GFP 标记的细胞粘附分子 CD44 的乳腺癌肿瘤细胞的 TIRF 图像，该分子位于细胞膜上，通过 TIRF 成像。

全内反射荧光（total internal reflection fluorescent microscope，TIRF）显微镜

全内反射荧光（TIRF）是荧光显微镜技术中的一项特殊技术，由密歇根大学安娜堡分校的 Daniel Axelrod 于 1980 年代初开发。TIRF 显微镜能提供轴向分辨率低于 100 纳米的超高清晰图像，这使得观察膜相关过程成为可能。

全内反射荧光显微镜（total internal reflection fluorescent microscope，TIRFM）在生命科学研究中的应用

全内反射荧光显微镜的独特之处在于利用衰逝波激发荧光团。与传统的弧光灯、LED 或激光宽场荧光照明方式不同，衰逝波仅能从盖玻片/介质界面开始穿透样本约 100 纳米深度。

超分辨率 GSDIM 显微镜

纳米级技术GSDIM（基态耗尽显微镜后单分子返回）提供了细胞内蛋白质和其他生物分子空间排列的详细图像。目前市场上已有首个商业系统（Leica SR GSD），它正在帮助将GSDIM技术推广给更多研究实验室和成像中心的用户。