显微镜知识库

徕卡显微系统的知识库提供有关显微镜学科的科学研究和教学材料。内容旨在对显微镜初学者、有经验的显微镜操作实践者和使用显微镜的科学家在他们的日常工作和实验有所帮助。这里有探索交互式教程和应用笔记，你可以找到你需要的显微镜的基础知识以及前沿技术——快来加入徕卡显微知识社区，分享您的专业知识！

A fruit fly (Drosophila melanogaster) observed with an Ivesta 3 stereo microscope during fly pushing (sorting of the flies). The scale bar length is 1 mm. Image courtesy of M. Benton, EMBL, Heidelberg, Germany.

A Guide to Using Microscopy for Drosophila (Fruit Fly) Research

The fruit fly, typically Drosophila melanogaster, has been used as a model organism for over a century. One reason is that many disease-related genes are shared between Drosophila and humans. It is…

斑马鱼研究

为了在筛选、分拣、操作和成像过程中获取高质量结果，您需要观察细节和结构，从而为您的下一步研究做出正确的决策。徕卡体视显微镜和透射光底座以出众的光学器件和优良的分辨率而闻名，是全世界研究学者的首选。

Pancreatic Ductal Adenocarcinoma with 11 Apoptosis biomarkers shown – BAK, BAX, BCL2, BCLXL, Caspase9, CIAP1, NaKATPase, PCK26, SMAC, Vimentin, and XIAP.

Transforming Research with Spatial Proteomics Workflows

Spatial Proteomics, Nature Methods 2024 Method of the Year, is driving research advancements in cancer, immunology, and beyond. By combining positional data with high throughput imaging of proteins in…

Example of a Leica stereo microscope, Ivesta 3, with integrated digital camera which can be used as a dissecting microscope.

解剖显微镜

实施解剖工作时，您可以通过解剖显微镜的目镜观察很长时间。徕卡显微系统为您提供各种显微镜和范围广泛的解剖显微镜零配件，确保您能找到最符合您需求的显微镜解决方案。

Area of a printed circuit board (PCB) which was imaged with extended depth of field (EDOF) using digital microscopy.

如何形成清晰的图像

在显微镜检查中，景深常被看做经验参数。在实际操作中，会根据数值孔径、分辨率和放大率之间的相关性确定该参数。为了获得最佳视觉效果，现代显微镜的调节设备在景深和分辨率之间实现了最佳平衡，这两个参数在理论上呈负相关。

Pancreatic Ductal Adenocarcinoma imaged with Cell DIVE. Analysis done by Aivia.

空间生物学指南

什么是空间生物学，研究人员如何利用其工具来满足后组学时代日益增长的生物学问题需求？这篇概述文章简要介绍了空间生物学及其技术，以及这一动态领域中的关键研究问题。

Image of magnetic steel taken with a 100x objective using Kerr microscopy. The magnetic domains in the grains appear in the image with lighter and darker patterns. A few domains are marked with red arrows. Courtesy of Florian Lang-Melzian, Robert Bosch GmbH, Germany.

使用克尔显微镜快速可视化钢中的磁畴

磁性材料中磁畴与偏振光相互作用后光的旋转，称为克尔效应，使得使用克尔显微镜对磁化样品进行研究成为可能。它可以快速可视化材料表面的磁域。对于用于电气和电子设备的磁性材料（例如钢合金）的高效研发和质量控制，克尔显微镜可以发挥重要作用。本文详细描述了如何使用克尔显微镜对钢合金晶粒中的磁域进行成像。

Region of a patterned wafer inspected using optical microscopy and automated and reproducible DIC (differential interference contrast). With DIC users are able to visualize small height differences on the wafer surface more easily.

6英寸晶圆检测显微镜：可靠观察细微高度差异

本文介绍了一种配备自动化和可重复的DIC（微分干涉对比）成像的6英寸晶圆检测显微镜，无论用户的技能水平如何。制造集成电路（IC）芯片和半导体组件需要进行晶圆检测，以验证是否存在影响性能的缺陷。这种检测通常使用光学显微镜进行质量控制、故障分析和研发。为了有效地可视化晶圆上结构之间的小高度差异，可以使用DIC。

Optical microscope image, which is a composition of both brightfield and fluorescence illumination, showing organic contamination on a wafer surface. The inset images in the upper left corner show the brightfield image (above) and fluorescence image (below with dark background).

晶圆上的光刻胶残留和有机污染物的可视化

随着半导体上集成电路（IC）的尺寸低于10纳米，在晶圆检测中有效检测光刻胶残留等有机污染物和缺陷变得越来越重要。光学显微镜仍然是常见的检测方法，但对于有机污染物，明场和其他类型的照明可能会存在局限性。本文讨论了荧光显微镜如何在半导体行业的QC、故障分析和研发过程中有效检测晶圆上的光刻胶残留和其他有机污染物。

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