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电子显微镜碳厚度
在电子显微镜样品镀膜时,石英晶振片可控制镀膜的厚度。这些晶振片一定的频率(新晶体时约为6兆赫)进行振荡。通过测量镀膜前和镀膜后的频率、镀膜材质比重和石英的几何位置,可以计算出应用厚度。
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探索 TEM 超薄切片自动染色的替代方案
透射电子显微镜(TEM)的图像衬度,主要由样品的电子散射差异产生:在TEM拍摄过程中,能够强烈散射电子的结构被称为电子致密结构,在明场图像中显示为暗区,而散射电子较少的结构则显示为亮区(电子透明)。
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临界点干燥简要介绍
临界点干燥程序是在SEM应用中对精密样本实施干燥的有效方法。临界点干燥保全了样本的表面结构,否则,当样本从液态变为气态时可能会因为表面张力而导致表面结构受破坏。在过去,临界点干燥是一个耗时的过程,由于手动操作太多造成了样本的重现性较低。许多生物样本通常在干燥前通过固定和脱水制备,干燥后进行金、铂或钯等金属镀膜使其表面导电,这样才能方便开展SEM分析。