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自适应反卷积与 Computational Clearing 结合的力量
反卷积是一种计算方法,用于恢复被点扩散函数(PSF)和噪声源破坏的物体图像。在本技术简介中,您将了解徕卡显微系统提供的反卷积算法如何帮助您克服宽视场 (WF) 荧光显微镜中由于光的波动性和光学元件对光的衍射而造成的图像分辨率和对比度损失。探索由用户控制或自动反卷积的方法,查看并解析更多的结构细节。
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消翳现真—突破传统宽场成像的极限
许多软件包都包含成像优化算法,通过降低背景噪声来增强图像特征的对比度。从 WF 图像中去除背景噪声最常用的方法是滚动球和滑动抛物面。近期徕卡显微系统公司推出了其自主研发的成像优化技术—即时成像解析(ICC),该技术已集成于所有徕卡THUNDER宽场成像平台。
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学习如何从共聚焦图像中去除自发荧光
了解自发荧光的常见原因以及如何将其从共聚焦显微镜图像中去除。根据应用的不同,自发荧光的来源可能有很多种,但幸运的是,同样也有很多的解决方案--从更换介质到使用荧光寿命成像和近红外染料。
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通过光遗传和电刺激技术研究纳米桥接结构和动力学
纳米级超微结构信息通常是由经固定和处理样品的静态图像获得的。但是,这些静态图像只是不断变化的动态结构中的一个瞬间。因此,如何探索动态过程中的特定时间点,是纳米级超微结构研究的一个重大挑战。通过光遗传或电刺激技术,并结合毫秒级样品玻璃化技术探索纳米级超微结构,是一种解决上述问题具有前景的技术。在本应用白皮书的第一部分中,我们将从实际应用角度讨论光刺激辅助的样品玻璃化工作流程。
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清晰对比、无雾的 3D 样本实时图像
历史上,宽场显微镜并不适合对大样本/标本体积进行成像。图像背景(BG)主要来源于观察样本的失焦区域,显著降低了成像系统的对比度、有效动态范围和最大可能的信噪比(SNR)。记录的图像显示出典型的雾霭,并且在许多情况下,无法提供进一步分析所需的细节水平。处理厚三维样本的研究人员要么使用替代显微镜方法,要么尝试通过后处理一系列图像来减少雾霭。