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背散射电子衍射技术(EBSD)能在样本表面上方数十纳米处生成电子衍射,因而它又称为一种“表面”技术。采用这种方法生成EBSD图案时,样本表面不会遭受任何损坏。本文中,我们介绍了使用EBSD高效抛光两个通过非聚焦离子束研磨制备的高难度样本的案例。
Gang Ji, et al.: Materials Characterization 89: 132–37 (2014).
这份指南旨在帮助用户优化受激发射损耗(STED)纳米成像的样品制备,特别是在使用徕卡微系统的STED显微镜时。它提供了单色STED成像用荧光标记的概述,并对其性能进行了评级。
本文将讨论印刷电路板 (PCB) 和总成 (PCBA)、集成电路 (IC) 和电池组件的横截面为什么对质量控制 (QC)、故障分析 (FA) 和研发 (R&D) 有效,以及如何制备这些横截面。
电子显微镜(EM)一直处于超微分辨率生物成像的最前沿,它简化了生物应用的 电镜 样品制备工作流程。
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