荧光寿命作为纳米环境的探针
荧光寿命是每种荧光染料或分子的特征参数，可能随其纳米级周围环境或构象状态而变化。寿命信息可探测分子所处环境的组成特性，例如离子浓度、pH值、脂溶性或与其他分子的结合情况。
寿命测量与成像相结合
LIM将寿命测量与成像相结合：对像素级获得的寿命值进行颜色编码，从而生成图像。因此，FLIM不仅能提供荧光分子的空间分布信息，还能同时反映其纳米环境的相关特性，从而带来额外维度的信息。
FLIM 数据采集和分析原理
- 重复测量激光激发荧光团和荧光光子 到达检测器每个像素之间的 时间（参见图 1A）。
- 计算激光脉冲后光子计数与到达时间的 直方图 。
- 对每个直方图拟合指数衰减曲线 F(t) = A0 exp (-t/τ)，其中振幅 F(t) 反映特定时间点检测到的光子总数，时间常数 τ 称为荧光寿命（参见图1B）。
- 生命周期图像 使用任意颜色显示每个生命周期值（参见图 1C）。
FLIM 解决方案
利用 STELLARIS 8 FALCON 系统的 FLIM 功能。有效研究细胞生理学并探索活细胞的动态变化。
![U2OS细胞经α-tubulin（AF546）和vimentin（AF555）免疫染色后的强度与FLIM图像[1]]。比例尺为5 µm，颜色条范围为0–3 ns。](/fileadmin/_processed_/1/9/csm_what-is-flim-fig-2_251c8d2ce7.jpg "U2OS细胞经α-tubulin（AF546）和vimentin（AF555）免疫染色后的强度与FLIM图像[1]]。比例尺为5 µm，颜色条范围为0–3 ns。")
