生命科学研究

生命科学研究

生命科学研究

在生命科学研究中心,您可以掌握最新的关于先进显微镜、成像技术、电镜样品制备和图像分析的前沿应用和创新,涵盖的主题包括细胞生物学、神经科学和癌症研究。希望在这里可以帮助您提升研究能力和精进显微镜在各个科学领域实际应用,并了解徕卡如何通过精确的可视化、图像解读和推进研究进展来赋能您的工作。
Particulate contamination in between moving metal plates.

高效清洁度分析的关键因素

在汽车和电子行业,零部件上细小的污染颗粒物也可能影响产品的性能,导致产品出现故障,或使用寿命缩短。对于汽车来说,过滤系统很容易受到影响。对于电子产品来说,印刷电路板(PCB)或连接器上的污染可能会导致短路。因此,清洁度在现代制造业的质量控制中占有核心地位,特别是使用由不同供应商生产的部件时,更要重点关注清洁情况。车辆或设备的关键部件如果受到污染,整个系统就可能发生故障。因此,高效清洁度分析过程必须…
Preparation of an IC-chip cross section: grinding and polishing of the chip cross section.

电子产品制造截面分析

本文将讨论印刷电路板 (PCB) 和总成 (PCBA)、集成电路 (IC) 和电池组件的横截面为什么对质量控制 (QC)、故障分析 (FA) 和研发 (R&D) 有效,以及如何制备这些横截面。
Material sample with a large height, size, and weight being observed with an inverted microscope.

工业应用中倒置显微镜相较于正置显微镜的五大优势

使用倒置显微镜时,您需要从下方观察样本,因为倒置显微镜的光学元件位于样本下方,而使用正置显微镜时,您需要从上方观察样本。一直以来,倒置显微镜主要用于生命科学研究,因为重力将样本沉入含有水性溶液的托座底部,从上方则无法观察到太多内容。但近段时间以来,倒置显微镜在工业应用中也变得越来越流行。我们现在一起来了解倒置显微镜在工业应用中的优势。
Acrylonitrile butadiene styrene (ABS) stained with osmium tetroxide (OsO4), sectioned with a DIATOME diamond knife at room temperature, and then imaged with HAADF TEM.

用于材料切片的超薄切片技术

了解这些用于材料切片的超薄切片技术的宝贵见解,并学习如何克服在处理聚合物、金属和脆性材料时遇到的挑战。千万不要错过这个提高您对先进显微镜样品制备方法的认识的机会。
Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.

横截面切片法分析IC芯片的结构与化学成分

从本文中了解如何通过横截面分析法对集成电路 (IC) 芯片等电子元件进行有效的结构和元素分析。探索如何通过研磨系统进行铣削、锯切、磨削和抛光工艺以及用于同时进行目视检测和化学分析的二合一解决方案来完成的。可针对电子行业的各种工作流程和应用实现快速、详细的材料分析,包括竞争分析、质量控制 (QC)、故障分析 (FA) 以及研发 (R&D)。

如何使用电子显微镜制备并分析电池样品

本次在线网络研讨会专为锂或新型电池系统的初级和高级电子显微镜(EM)用户以及需要高分辨率横截面成像的其他半导体样品而设计。
Electric car or EV car charging in station. Eco-friendly alternative energy concept.

替代燃料以及为何可持续解决方案很重要

有关替代燃料汽车的作用以及为什么可持续解决方案对汽车行业日益重要的按需网络研讨会
Electric car - generic 3d rendering

汽车行业电动汽车技术清洁度

电动汽车包含的一些组件和系统需符合严格的清洁度标准和指南,实验室检测此类组件和系统时必须能够满足相关的要求。为此,VDA 19.1指南需要做出相应的修改。随着电动汽车的快速发展,检测行业需要寻找全新的技术解决方案,满足日益严苛的颗粒物分析要求。

确定颗粒物破坏潜力的三个主要因素

本文讨论了确定颗粒物对汽车和电子行业中的零件和组件的破坏性潜力三个主要因素,分别是颗粒物反射率、高度和成分。光学显微镜可以评估颗粒物的反射率和高度,但颗粒物成分的评估则需要使用激光诱导击穿光谱(LIBS)等光谱分析方法。结合显微镜和LIBS的二合一解决方案可以帮助用户高效确定颗粒物的损坏潜力。
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