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如何分析杂质和内部结构？
利用偏振和微分干涉对比（DIC）显微镜，用户可以观察到在标准明视野照明下看不到的内部材料结构，如微裂缝和夹杂物。偏振可突出显示各向异性材料，而 DIC 可增强透明样品的对比度，无需染色。DM4 P 和 DM6 M 显微镜提供偏振和 DIC 功能。
如何精确制备显微成像样品？
对硬质材料进行精确的切割、打磨和抛光，使您能够以微米级的精度瞄准特定的样品区域。使用 EM TXP 靶件制备系统时可以做到这一点。
EM TIC 3X 采用三离子束铣削技术，对异质或脆性材料和超平表面进行无损横截面加工。
材料分析显微镜用于何处？
材料分析显微镜有多种用途，如质量控制 (QC)、研发 (R&D)、技术清洁和故障分析 (FA)。它们对汽车、航空航天、合金、半导体、电子、医疗设备、地球科学、法医学、化学工程和制药科学等多个行业和领域都非常重要。
为什么选择 "二合一 "解决方案？
一种 "二合一 "解决方案是光学显微镜，它还能进行激光诱导击穿光谱分析 (LIBS)。它既能对材料样本进行成像，又能分析其化学成分，包括相和夹杂物等微观结构特征。该解决方案可帮助用户实现更简化、更高效的材料分析。
为什么使用徕卡显微镜进行材料科学& 分析？
我们的材料科学解决方案
DM 750 P | Visoria M& P | DM4 M& P | DM6 M LIBS | DMi8 A | |
| 物镜转盘 | 手动 | 编码 | 编码 | 电动 | 编码 |
| 对比方法 | 手动 | 编码 | 电动 | 电动 | 电动 |
| 照明管理 | 不可用 | 可用 | 可用 | 可用 | 可用 |
| 支持的对比度方法 | IL：BF、DF、Pol（荧光） TL：BF、DF、相位、极性 | IL：BF、DF、Pol、DIC、斜面（荧光） TL：BF、DF、相位、DIC、Pol | IL：BF、DF、Pol、DIC（荧光） TL：BF、DF、相位、DIC、Pol | IL：BF、DF、Pol、DIC（荧光） TL：BF、DF、相位、DIC、Pol | IL：BF、DF、Pol、DIC（荧光） TL：BF、DF、相位、DIC、Pol |
| Z 驱动器 | 手动 | 手动 | 手动/机动 | 电动 | 电动 |
| 旋转舞台 | 手动 | 手动 | 手动 | 手动 | 电动 |
| 支持的软件 | LAS X 工业 | Enersight / LAS X Industry* | LAS X 工业 | LAS X 工业 | LAS X 工业 |
LAS X Industry 对 Visoria M 的设备支持有限& P
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