徕卡正置显微镜

常规实验室显微镜 - 正置显微镜

用于生命科学研究的正置光学显微镜

使用徕卡显微镜,在生命科学研究领域,你能得到可供文章发表级别的清晰成像和个性化定制的正置显微镜解决方案。这些强大的成像系统拥有恒定颜色,自然光照明,高端光学器件以及可配置的选项,为您提供高对比,清晰明亮的图像,助力您尖端生物学研究。

用于工业和材料学的正置光学显微镜

从徕卡显微系统的工业及材料正置显微镜中获取最细微的细节,并有效地检查和记录结果。每一个解决方案可以与明亮恒温的LED照明,人体工学配件,先进的数码相机和直观的软件进行搭配以满足广泛的应用范围。

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如何选择合适的测量显微镜

使用测量显微镜,用户可以测量样品特征的二维和三维尺寸,这对检测、质量控制、故障分析和研发&D 至关重要。然而,选择合适的显微镜需要评估应用需求以及显微镜的性能、易用性和灵活性。如今,测量通常以数字方式进行,即使用带有摄像头和软件的显微镜,图像显示在显示器上,而不是通过目镜网线,从而提高了精度和可重复性。使用合适的测量显微镜可靠、快速地分析样品。
Example of calibrating a microscope at a higher magnification value using a stage micrometer.

显微镜测量校准:为什么要校准以及如何校准

显微镜校准可确保用于检测、质量控制 (QC)、故障分析和研发 (R&D) 的测量结果准确一致。本文介绍了校准步骤。使用参照物进行校准可获得可重复的结果,并有助于确保与准则和标准一致。为获得准确一致的结果,建议校准显微镜并定期检查。如有需要,可向校准专家寻求支持。
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眼科案例分析:角膜移植

内皮角膜移植术是一种现代角膜移植技术。角膜移植手术有多种手术方法,包括角膜后弹力膜撕除角膜内皮移植术(DSEK)和角膜后弹力膜内皮移植术(DMEK)。这些方法在植入供体组织的数量上有所不同。
Optical microscope image, which is a composition of both brightfield and fluorescence illumination, showing organic contamination on a wafer surface. The inset images in the upper left corner show the brightfield image (above) and fluorescence image (below with dark background).

Visualizing Photoresist Residue and Organic Contamination on Wafers

As the scale of integrated circuits (ICs) on semiconductors passes below 10 nm, efficient detection of organic contamination, like photoresist residue, and defects during wafer inspection is becoming…
Image of magnetic steel taken with a 100x objective using Kerr microscopy. The magnetic domains in the grains appear in the image with lighter and darker patterns. A few domains are marked with red arrows. Courtesy of Florian Lang-Melzian, Robert Bosch GmbH, Germany.

Rapidly Visualizing Magnetic Domains in Steel with Kerr Microscopy

The rotation of polarized light after interaction with magnetic domains in a material, known as the Kerr effect, enables the investigation of magnetized samples with Kerr microscopy. It allows rapid…
Region of a patterned wafer inspected using optical microscopy and automated and reproducible DIC (differential interference contrast). With DIC users are able to visualize small height differences on the wafer surface more easily.

6 英寸晶片检测显微镜,可靠的观察微小高度差

本文介绍了一种 6 英寸晶圆检测显微镜,无论用户的技术水平如何,它都能自动进行可重复的 DIC(微分干涉对比)成像。集成电路 (IC) 芯片和半导体元件的制造需要晶圆检测,以确保不存在影响性能的缺陷。通常使用光学显微镜进行质量控制、故障分析和 R&D 检测。为了有效地观察晶圆上结构之间的微小高度差,可以使用 DIC。
Dr. Sheybani places the new subconjunctival stent in the anterior chamber. Images courtesy of Arsham Sheybani, MD.

术中OCT引导的青光眼支架修复手术

青光眼是导致全球不可逆失明的主要原因之一。小梁网切除术和导管分流引流术等历史悠久的手术技术会带来巨大的短期风险和潜在并发症。近年来,随着微创青光眼手术(MIGS)的出现,手术方法有了长足的发展,其特点是对组织的破坏最小、内路粘小管植入、手术时间短、器械简单、术后恢复快。
Automated wafer loader using carbon fiber end-effectors for safer handling.

无需用手接触即可安全装载晶片,进行显微镜检测

本文介绍了用于显微镜检测的自动硅晶片装载如何帮助改进微电子工艺控制和生产效率。人工搬运晶圆很可能会损坏脆弱的晶圆表面,从而增加成本,而自动化搬运则能确保更安全、更具成本效益的生产。自动晶片装载机在显微镜检测和制造方面的优势概述如下。
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肿瘤重建外科的进展

在肿瘤重建外科的决策和患者护理方面,近年来发生了显著的变化。新的外科辅助技术正在帮助外科医生突破可实现的界限。这些技术包括:符合人体工程学的外科显微镜、吲哚菁绿(ICG)荧光、切割导向器和 3D 打印、增强现实以及高倍放大、全高清目镜图像注入,以及 2D 和 3D 视频录制。
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电池制造过程中的毛刺检测

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