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显微镜测量校准:为什么要这样做?
显微镜校准可确保检测、质量控制 (QC)、故障分析和研发 (R&D) 所需的测量准确一致。本文介绍了校准步骤。使用参照物进行校准可使结果具有可重复性,并有助于确保与准则和标准一致。为了获得准确一致的结果,建议校准显微镜并定期检查。如有需要,可向校准专家寻求支持。
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电池组件的横截面离子束研磨(锂电池与铅酸电池栅板)
深入了解锂电池系统需要高质量的表面处理,以评估其内部结构和形态。然而,快速简单地制备原始横截面可能由于所涉及材料的性质和电池结构而变得困难。多数材料系统通常使用切割、包埋、研磨、抛光等纯机械方法制备横截面。在这种情况下,单纯的机械制备不足以对电池进行高分辨率的SEM分析。
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表面计量学简介
本报告简要讨论了几种常用于评估表面形貌(也称为表面纹理或表面光洁度)的重要计量技术和标准定义。随着纳米技术、薄涂层以及电路和装置小型化的出现,表面计量学已成为一个极其重要的科学和工程领域。
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如何创建EDOF(扩展景深)图像
观看此视频,了解如何使用徕卡显微系统LAS X软件的可选扩展景深(EDOF)功能,快速记录具有较大高度变化样本的清晰光学显微镜图像。以使用徕卡显微镜从低倍到高倍拍摄的电路板EDOF图像为例进行了展示。