材料&地球科学

您需要合适的工具获取可靠,高品质的照片用以科研分析。徕卡显微系统可满足您所需的各种科研光学资源。依靠我们的当地专家支持系统,为您提供最广泛的光学,图像系统,软件及人机工程学附件以构筑您的应用需求解决方案。

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地质、环境、古生物和地球科学

利用徕卡显微系统提供的多功能、可靠的显微镜系统,研究和发现常规至具有挑战性的环境保护和地球科学问题,提出解决方案。您的工作对于推进我们对周围世界的理解举足轻重,因此必须使用功能强大而且准确的研究工具,良好地记录并再现结果。徕卡的生产线符合人体工学,高品质的显微镜解决方案所提供的模块化系统,有助于精确测量、细致分析各种材料。

材料科学、物理和工程

科研机构使用的高品质显微镜系统,处于材料、物理和工程研究前沿。为了协助您探索和测试,您需要强大、可靠的、经济实惠的显微镜、相机和软件,从而检验、分析、测量和记录各种样品。徕卡显微系统的特点在于具有符合人体工学、高品质的成像系统,用于最具挑战性的材料研究领域。

使您不会错过任何细节

徕卡显微系统专为不同领域的修复学家、艺术历史学家、考古学家以及相关领域的专家提供各种解决方案。对详细准确地分析样品、显微分析结构及材料并存档,全部进行了优化。

艺术品修复

结合数码相机技术和图像分析软件,徕卡显微系统的艺术保护显微镜解决方案专为不同领域的修复学家、艺术历史学家、考古学家以及保护工作室和博物馆的专家所设计。

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钢材质量评定

提高非金属夹杂物评定效率 有助于钢材供应商和工业制造商在更短的时间内检验钢材质量,确保钢材性能可靠、使用寿命长久。 日益严格的相关规范和标准要求人们必须严格按照国际、地区和行业组织的钢材标准评定非金属夹杂物。

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徕卡显微系统的知识门户网站 提供有关显微镜学的科学研究资料和教学材料。 网站内容专门面向初学者、经验丰富的从业者和科学家,为他们的日常工作和实验提供支持。

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[Translate to chinese:] Preparation of an IC-chip cross section: grinding and polishing of the chip cross section.

电子产品制造截面分析

本文将讨论印刷电路板 (PCB) 和总成 (PCBA)、集成电路 (IC) 和电池组件的横截面为什么对质量控制 (QC)、故障分析 (FA) 和研发 (R&D) 有效,以及如何制备这些横截面。
[Translate to chinese:] Material sample with a large height, size, and weight being observed with an inverted microscope.

工业应用中倒置显微镜相较于正置显微镜的五大优势

使用倒置显微镜时,您需要从下方观察样本,因为倒置显微镜的光学元件位于样本下方,而使用正置显微镜时,您需要从上方观察样本。一直以来,倒置显微镜主要用于生命科学研究,因为重力将样本沉入含有水性溶液的托座底部,从上方则无法观察到太多内容。但近段时间以来,倒置显微镜在工业应用中也变得越来越流行。我们现在一起来了解倒置显微镜在工业应用中的优势。
Acrylonitrile butadiene styrene (ABS) stained with osmium tetroxide (OsO4), sectioned with a DIATOME diamond knife at room temperature, and then imaged with HAADF TEM.

Ultramicrotomy Techniques for Materials Sectioning

Learn about ultramicrotomy for materials sectioning when investigating polymers and brittle materials with transmission (TEM) or scanning electron microscopy (SEM) or atomic force microscopy.
[Translate to chinese:] Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.

横截面切片法分析IC芯片的结构与化学成分

从本文中了解如何通过横截面分析法对集成电路 (IC) 芯片等电子元件进行有效的结构和元素分析。探索如何通过研磨系统进行铣削、锯切、磨削和抛光工艺以及用于同时进行目视检测和化学分析的二合一解决方案来完成的。可针对电子行业的各种工作流程和应用实现快速、详细的材料分析,包括竞争分析、质量控制 (QC)、故障分析 (FA) 以及研发 (R&D)。

如何使用电子显微镜制备并分析电池样品

本次在线网络研讨会专为锂或新型电池系统的初级和高级电子显微镜(EM)用户以及需要高分辨率横截面成像的其他半导体样品而设计。
Electric car - generic 3d rendering

汽车行业电动汽车技术清洁度

电动汽车包含的一些组件和系统需符合严格的清洁度标准和指南,实验室检测此类组件和系统时必须能够满足相关的要求。为此,VDA 19.1指南需要做出相应的修改。随着电动汽车的快速发展,检测行业需要寻找全新的技术解决方案,满足日益严苛的颗粒物分析要求。
[Translate to chinese:] Optical microscope image of salt contamination on an aluminum/silicon (Al/Si) surface. Credit: Gerweck GmbH, Germany.

电镀技术中的微观缺陷

在本次网络研讨会上,将介绍激光诱导击穿光谱(LIBS)如何用于质量控制,以快速确定产品电镀过程中缺陷(污染)的根本原因。
User analyzing particles and fibers on a filter for cleanliness analysis with the DM6 M LIBS 2-methods-in-1 solution.

组件清洁度分析基础知识

介绍了可根据您的需求定制的组件清洁度和分析解决方案基础知识的概述。对汽车行业而言,快速、准确、可靠地获得整个清洁度工作流程中的清洁度结果是一项显著优势。为帮助用户轻松建立设施和知识,徕卡显微系统和Pall提供可满足个人需求且符合通用标准的独特清洁度工作流程解决方案。通常会使用多个供应商的仪器,但一个供应商提供的完整工作流程的解决方案效果更佳。

确定颗粒物破坏潜力的三个主要因素

This article discusses the 3 factors for determining the potential of a particle to cause damage to parts and components in the automotive and electronic industry. These factors include the…

用二合一解决方案进行清洁度分析

在本文中,我们研究了如何利用二合一材料分析解决方案,并结合光学显微镜和激光诱导击穿光谱(LIBS)开展整体高效、经济的清洁度分析工作。技术清洁度会显著影响汽车和电子行业的产品质量和可靠性。二合一激光材料分析解决方案能同时提供颗粒图像和成分数据,因此可缩短清洁度分析的时间。此外,颗粒污染源也更易于清除。
[Translate to chinese:] The various solutions from Leica Microsystems for cleanliness analysis.

选择清洁度分析解决方案需考虑的因素

正确的清洁度分析解决方案对质量控制至关重要。本文介绍了选择适合自身需求的解决方案时应考虑的一些重要因素。这些因素取决于不同的方面,例如:(微电子或汽车)行业,污染物类型、尺寸、成分、材料属性和可能造成的损害等。从基本的清洁度验证到更复杂的分析,有多种基于显微镜和激光光谱的清洁度解决方案可供选择。
[Translate to chinese:] Particles and fibers on a filter which will be counted and analyzed for cleanliness

高效颗粒计数和分析

本报告介绍了使用光学显微镜对零部件的清洁度进行颗粒计数和分析的方法。颗粒计数和分析对汽车和电子行业的质量保证非常重要。颗粒污染可能会导致零部件退化或失效。清洁度分析能快速确定颗粒的大小、类型以及造成损坏的概率。对于更高级的分析(如确定颗粒成分),则可以使用光学显微镜和激光诱导击穿光谱(LIBS)。
[Translate to chinese:] When particulate contamination is present in lubricating fluids or oils, it can cause damage to parts or components leading to malfunctions.

汽车和航空航天工业中的液压装置

本文讨论了与润滑剂、液压油和油类相关的清洁度标准,例如ISO 4406和DIN 51455。在汽车和运输行业中,清洁度是一个重要的参数。在一些重要的流体中,经常会存在颗粒污染物。应尽可能减少颗粒物的数量,因为颗粒物会损坏零部件,进而降低性能,缩短产品的使用寿命。业内对流体质量的要求不断提高,这也就意味着要满足更为严格的清洁度标准。
[Translate to chinese:] Particles which could be found during cleanliness analysis of parts and components.

汽车零部件的清洁度

本文讨论了ISO 16232标准和VDA 19指南,并简要总结了颗粒物分析方法。它们为汽车零部件在微粒污染方面的清洁度提供了重要标准。此类颗粒物会对产品性能和寿命产生影响。在清洁度分析中,可以使用自动光学显微镜方法来确定颗粒物类型、大小和造成损坏的可能性。有时,需要更多成分信息,才能准确找到潜在的损害和污染源。这时候就需要借助激光光谱(LIBS)或电子显微镜。
[Translate to chinese:] Multiple particles seen on a filter imaged with a microscope

优化清洁度分析工作流程

对于汽车制造商和汽车零部件供应商而言,在整个工作流程中快速、准确、可靠地获得清洁度结果是一项显著优势。对于这种质量控制任务,通常使用来自多个供应商的多台仪器来执行分析。出于这个原因,徕卡显微系统公司和颇尔公司携手努力提供最佳的交钥匙清洁度分析解决方案。客户可以获得徕卡和颇尔的整体解决方案和专家建议,优化并保持产品性能。

控制药品中的微粒污染

本文阐述了如何使用光学显微镜和激光诱导击穿光谱(LIBS)相结合的二合一方法识别制药行业中的微粒污染物。药物和静脉注射溶液等药品的微粒污染可能会导致严重问题。为消除药品微粒污染,最重要的是能够快速、准确地识别污染,甚至能够快速找到污染源。激光诱导击穿光谱可以对材料进行快速的多元素分析。本文介绍的二合一方法可以同时提供目视检查(颜色和形状)和化学(成分)分析,可快速、可靠地识别非监管环境中的微粒污染…

案例介绍:(USB连接器)污染物和底层基材的快速视觉和化学分析

本报告中介绍了一种视觉和化学分析二合一解决方案,可以更高效、更完整地分析材料污染物。除了同步的视觉和化学检测,还可以使用光学显微镜和激光诱导击穿光谱(LIBS)二合一解决方案,快速清除污染物并检测底层基材。

利用光学显微镜和激光光谱的2合1解决方案,对检测材料执行深度剖析和分层分析

除了同时进行视觉和化学检查外,结合了光学显微镜和激光诱导击穿光谱技术(LIBS)的2合1材料分析解决方案还可用于高效执行深度剖析。深度剖析可以成为整个材料分析工作流程的其中一环。本文讨论了用2合1解决方案对涂层材料进行快速深度剖析的方法。检测具有多层涂层,或散装材料内有多种成分的部件或零件时,深度剖析是非常有效的方法。印刷电路板(电子)上的涂层和车辆(汽车和运输)上的油漆和防腐蚀涂层就很适合进行深…
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