EM TXP 横截面切割设备

电子与光学显微镜检测的横截面制备起点

了解更多Leica EM TXP靶面处理系统

Leica EM TXP 是专为SEM、TEM及LM检测前样本处理开发的独特靶向制备设备，集成切割、研磨、钻孔、打磨与抛光五大功能。

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