Leica EM TXP
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![[Translate to chinese:] Preparation of an IC-chip cross section: grinding and polishing of the chip cross section.](/fileadmin/_processed_/3/b/csm_Grinding_polishing_EM_TXP_91d5c1584d.jpg "[Translate to chinese:] Preparation of an IC-chip cross section: grinding and polishing of the chip cross section.")
电子产品制造截面分析
本文将讨论印刷电路板 (PCB) 和总成 (PCBA)、集成电路 (IC) 和电池组件的横截面为什么对质量控制 (QC)、故障分析 (FA) 和研发 (R&D) 有效，以及如何制备这些横截面。
![[Translate to chinese:] Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.](/fileadmin/_processed_/a/c/csm_IC_chip_cross_section_20a5502a5d.jpg "[Translate to chinese:] Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.")
横截面切片法分析IC芯片的结构与化学成分
从本文中了解如何通过横截面分析法对集成电路 (IC) 芯片等电子元件进行有效的结构和元素分析。探索如何通过研磨系统进行铣削、锯切、磨削和抛光工艺以及用于同时进行目视检测和化学分析的二合一解决方案来完成的。可针对电子行业的各种工作流程和应用实现快速、详细的材料分析，包括竞争分析、质量控制 (QC)、故障分析 (FA) 以及研发 (R&D)。
![[Translate to chinese:] EBSD grain size distribution of the cross section of a gold wire within a silicon matrix from inside a CPU (central processing unit of a computer). The grains are highlighted with arbitrary colors.](/fileadmin/_processed_/d/0/csm_EBSD_grain_size_distribution_of_the_cross_section_of_a_gold_wire_58f1fb038c.jpg "[Translate to chinese:] EBSD grain size distribution of the cross section of a gold wire within a silicon matrix from inside a CPU (central processing unit of a computer). The grains are highlighted with arbitrary colors.")
非聚焦离子束研磨制备高质量EBSD样品
背散射电子衍射技术（EBSD）能在样本表面上方数十纳米处生成电子衍射，因而它又称为一种“表面”技术。采用这种方法生成EBSD图案时，样本表面不会遭受任何损坏。本文中，我们介绍了使用EBSD高效抛光两个通过非聚焦离子束研磨制备的高难度样本的案例。
![[Translate to chinese:] SEM image of the full Li-NMC electrode sample, showing the two porous layers and the metal film at the center of the structure.](/fileadmin/_processed_/2/f/csm_Cross_Section_Ion_Beam_Milling_of_Battery_Components_teaser_5295ac1cbc.jpg "[Translate to chinese:] SEM image of the full Li-NMC electrode sample, showing the two porous layers and the metal film at the center of the structure.")
电池组件的横截面离子束研磨（锂电池与铅酸电池栅板）
深入了解锂电池系统需要高质量的表面处理，以评估其内部结构和形态。然而，快速简单地制备原始横截面可能由于所涉及材料的性质和电池结构而变得困难。多数材料系统通常使用切割、包埋、研磨、抛光等纯机械方法制备横截面。在这种情况下，单纯的机械制备不足以对电池进行高分辨率的SEM分析。
Workflow Solutions for Sample Preparation Methods for Material Science
This brochure presents and explains appropriate workflow solutions for the most frequently required sample preparation methods for material science samples.
Battery Manufacturing
Battery manufacturing has several key challenges concerning inspection. Solutions for sample preparation and microscopic visual and chemical analysis are needed.
应用的领域
钟表制造业用显微镜
对于钟表制造商以及在制表业中，高精度徕卡立体显微镜有助于手表的精密组装和可靠检验，从而成就高超品质和精湛工艺。
汽车 & 交通工业显微镜
徕卡希望成为您密不可分的合作伙伴，带给您成像解决方案，让您在竞争中保持前列地位。
徕卡智能成像解决方案可助您应对特殊应用，满足当前和未来的需要，让您专心致志进行创新。
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材料分析显微镜
材料分析需要显微镜解决方案，用于成像、测量和分析各种材料（例如金属合金、半导体、玻璃、陶瓷以及塑料和聚合物）的特征。无论是在质量控制、故障分析方面，还是在研发方面，这种材料分析显微镜均对不同的工业应用非常重要。
工业显微镜市场
最大限度地提高正常运行时间并有效地实现目标有助于您提升效益。徕卡显微镜解决方案可以让您深入了解微小)的样品细节，以及快速可靠地分析，记录和报告结果。徕卡微系统提供广泛的解决方案和专家支持，可以帮助您满足不同的应用需求。
电子器件横截面分析
可以通过电子器件横截面分析对印刷电路板（PCB）、组件（PCBA）和集成电路（IC）等部件的故障机制进行详细分析。
电子和半导体行业
对于电子和半导体，助力实现高效检测、横截面和清洁度分析以及PCB、晶圆、IC芯片和电池研发的整体解决方案至关重要。
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