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Power HyD探测器系列

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Power HyD探测器系列

我们的STELLARIS扩展了探测器技术的极限,使您能够扩展科学研究受到的限制。 我们新设计的Power HyD探测器系列由3种不同的探测器组成,可配置符合您应用需求的共聚焦。

为您的科学研究树立起成像新标准

STELLARIS平台的核心创新就是我们的Power HyD S探测器。 这些探测器提供模拟和光子计数探测功能,建立了共聚焦成像新标准。

混合型Power HyD R探测器可优化近红外光范围的成像,我们的Power HyD X则是专为FLIM和荧光关联光谱(FCS )成像而设计的探测器。 Power HyD R和Power HyD X都提供光子计数功能和数字化模式,是用于增强STELLARIS 8应用灵活性的选项。

STELLARIS Power HyD探测器系列可提供非常广泛的光谱范围内的最高灵敏度,树立起共聚焦成像新标准。 范围广泛的应用需求中的探测灵活性使您能够获得可立即发布的出色图像。

提高光子计数能力

在光子稀疏地撞击探测器的情况下,传统的光子计数方法能够在较低的信号强度上准确工作,但是无法区分是一个还是两个光子同时撞击探测器。 徕卡显微系统实施了一个专有的光子计数新方法Power Counting,该方法能够摆脱这一局限,区分单个光子和重叠的光子。 Power HyD探测器全系列都装配了这一新技术。

我们的Power HyD S技术与Power Counting相结合,可提供比传统光子计数方法多两倍的动态范围*。 这种加强的光子计数能力可提高图像对比度,特别是在光子重叠可能性更大的高信号强度情况下。 现在,徕卡显微系统专有的光子计数方法可为您提供定量结果。

*STELLARIS HyD S和SP8 HyD在光子计数模式(CW)下的线性范围的对比

2个探测模块,零妥协成像

Power HyD S探测器是STELLARIS的新核心部分。 这些硅基多像素光子计数器(MPPC)探测器是徕卡显微系统多年工程设计经验的成果。 这一增强的图像质量树立起共聚焦成像新标准。

Power HyD S具有模拟和光子计数两种运行模式,为范围广泛的共聚焦应用领域提供独一无二的灵活性和多样性。 模拟探测可提供最高动态范围,您可以在光子数量很大或很小的情况下收集准确的定量数据。 在光子计数模式下,您将获得超低的暗噪声,即使是最微弱的信号也能获得无与伦比的灵敏度。

超灵敏图像探测: 通过有效采集信号保持样本的完好性

Power HyD S探测器增强的灵敏度和极低的暗噪声可提供高对比度图像。 这种组合对于需要在低功率激光下成像的脆弱样本特别有用。 高灵敏度和低背景信号意味着脆弱样本也能够清晰成像,即使激光功率降低到最小程度,也能几乎没有干扰和噪声,避免样本受到光损伤。

Power HyD S探测器可提高蓝色绿色范围内的灵敏度,光子探测效率(PDE)最高可达56%,比传统的多碱光电倍增管(PMT)探测器高2倍多。 这种超灵敏探测技术用于CFP或GFP等最常用的荧光探针的发射范围,有助您改进活细胞成像实验,即使在低水平信号情况下也不例外。

用STELLARIS在扩展红光范围内成像

Power HyD探测器系列与新的扩展白光激光器相结合,在近红外光谱中提供更多的颜色选项,为荧光激发和探测提供难以置信的广泛的光谱范围。

Power HyD探测器系列将探测范围扩展到850nm,您可以在实验中最多额外添加3个荧光团。 这一全新的广泛性为您在实验中使用近红外染料提供更多选项。

Power HyD S和Power HyD R探测器提供了近红外光谱范围*中出色的灵敏度,PDE比PMT探测器高3倍。 我们的Power HyD R探测器具有扩展红光性能,提供这个范围中的出色信号,最佳利用新的WLL波长可最佳激发若干个新范围中的关键荧光团(例如AF750、AF790、CF 700、CF 750、CF 770)。

*近红外光谱范围(720-850纳米)。

释放STELLARIS与TauSense的潜力

通过准确的光子到达时间信息实现高速光子计数,所有Power HyD探测器系列都可使用TauSense,从样本的染料中同时获得荧光强度和基于寿命的信息。 TauSense完全集成,只需点击一下按钮,即可额外添加一个信息维度。 TauSense可使您探索细胞微环境和代谢状态,在其荧光寿命信息的基础上区分染料。

专门用于FLIM、FCS、FLCS的探测器

Power HyD X和Power HyD R探测器专门为大多数快速寿命成像应用进行了优化。 为了探测寿命成像应用中经常需要的单个分子,需要显微镜探测器具有极高的灵敏度。 Power HyD X和Power HyD R探测器专为成为所有SMD(单个分子探测)方法的最佳探测器而开发。 由珀尔帖冷却装置和外部附加冷却装置组成的主动冷却系统可减少暗噪声,提供最高的SMD数据质量。 高量子效率以及几乎没有探测器后脉冲这两大特点相结合,使您可以获得精确的扩散数据。 由于光子数量高,仪器响应时间短,Power HyD X和Power HyD R探测器成为在寿命应用中使用的全球领先设备。

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