相关文章
-
![[Translate to chinese:] Particulate contamination in between moving metal plates.](/fileadmin/_processed_/b/d/csm_Particulate_contamination_in_between_moving_metal_plates_2_61b4c1c546.jpg "[Translate to chinese:] Particulate contamination in between moving metal plates.")
高效清洁度分析的关键因素
在汽车和电子行业，零部件上细小的污染颗粒物也可能影响产品的性能，导致产品出现故障，或使用寿命缩短。对于汽车来说，过滤系统很容易受到影响。对于电子产品来说，印刷电路板（PCB）或连接器上的污染可能会导致…
Jan 03, 2024Read article -
![[Translate to chinese:] Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.](/fileadmin/_processed_/a/c/csm_IC_chip_cross_section_b2bf8f2497.jpg "[Translate to chinese:] Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.")
-
![[Translate to chinese:] Optical microscope image of salt contamination on an aluminum/silicon (Al/Si) surface. Credit: Gerweck GmbH, Germany.](/fileadmin/_processed_/0/5/csm_Electroplating_LIBS_on-dema_96d3461bc7.jpg "[Translate to chinese:] Optical microscope image of salt contamination on an aluminum/silicon (Al/Si) surface. Credit: Gerweck GmbH, Germany.")
加速您的材料分析工作流程
使用激光光谱对颗粒污染物进行快速视觉和化学分析 - 由 Konstantin Kartaschew 博士讲解
药品（例如药物、液体和固体药丸/片剂、静脉注射/输液、滴眼剂和吸入器）中的颗粒污染物可能来自许多不同的来源。例如溶液、包装、密封件等存在的未溶解残留物。识别并消除药品中的这些污染物颗粒对于确保产品质量和患者安全至关重要。
然而，使用扫描电子显微镜和能量色散光谱 (SEM/EDS) 寻找污染源通常非常复杂且耗时：它需要将样品转移到真空室中，并重新定位感兴趣的颗粒。全新的二合一解决方案结合了光学显微镜和激光光谱，可以同时对颗粒进行视觉和化学分析。
网络研讨会简介
关于本次网络研讨会
向我们的专家 Konstantin Kartaschew 博士了解光学显微镜与激光诱导击穿光谱 (LIBS) 的智能组合如何真正加速您的分析工作流程。您会发现在一个工作步骤中使用光学显微镜进行目视检测（颜色和形状）和化学（成分）分析将节省您的时间，并让您更快地找到颗粒污染源。使用典型药物样品进行的演示将向您展示这种二合一解决方案在实践中的工作原理。
Konstantin Kartaschew 博士解释了 Leica Microsystems 的 DM6 M LIBS 二合一解决方案如何提供优于 SEM/EDS 的优势。例如，可以通过光学显微镜看到颗粒的真实颜色，并且可以使用 LIBS 元素分析快速有效地确定污染源。
核心知识点
- 了解如何在单个工作步骤中快速有效地确定颗粒污染物的形状、大小、颜色和成分。
- 了解同步目视和化学颗粒分析相对于使用 SEM/EDS 的传统根本原因分析技术的优势。
- 面了解创新的 LIBS 技术以及光谱指纹对高速颗粒分析的意义。
想了解更多信息？
请咨询我们的专家。
您想获取专人咨询吗？ Show local contacts