产品 媒体 下载 应用 文章 常见问题 索取报价 EM TIC 3X 可配置的离子束切割研磨系统 EM TIC 3X 可配置的离子束切割研磨系统 索取报价 产品 产品 媒体 下载 应用 文章 常见问题 ⋯ 电镜样品制备 首页 产品 电镜样品制备 EM TIC 3X 可配置的离子束切割研磨系统 使用三个宽离子束创建高质量的铣削表面,为下游电子显微镜分析揭示真实的样品结构。EM TIC 3X 具有适应性和灵活性,可轻松更换样品台并与样品夹具兼容,支持各种实验。 仅供研究使用 索取报价 精确的表面处理。设计简洁。 你的好处 1 1 揭示样本的真实结构和组成 EM TIC 3X 可为电镜分析制备内部结构,提供原始的截面质量,精确对齐样品,并有效铣削多层结构,最大限度地减少再沉积和分层。 Scroll to feature 真实的表面让使用者能够获得相关结果 制备各种类型样品的高质量表面,无论样品是硬的、软的、脆的、异质的还是热敏的。EM TIC 3X 可帮助揭示样品内部结构,产生原始的表面质量。 使用三个宽离子束,无需样品台旋转,即可加工出高质量的铣削表面。获得最大的横截面积,以达到最高的分析产量。有五个样品台和多个样品夹具可供选择。 图片说明1:SiC 砂纸的横截面;2:单板的横截面;3:在 -120°C 下制备的同轴聚合物纤维(水溶性);4:油页岩(纳米孔),使用 EM TIC 3X(旋转台)显示,总样品尺寸 Ø 25 mm 轻松制备内部掩藏结构 即使是埋藏结构,也不会错过目标结构。使用立体显微镜将样品与掩膜和离子枪精确对准。观察并记录整个过程。 三离子束与样品和标准挡板对齐 高效制备铝箔样品 制备单层或多层箔的横截面,尽量减少再沉积或分层。成功研磨各种类型的箔片,消除机械制备过程中产生的伪影,实现对电池组件的高分辨率扫描电镜分析。 在气氛控制工作流程中制备的锂离子电池 (LIB) 三层聚合物隔膜的 SEM 图像。提供者:Prof. Dr-Ing. Silke Christiansen INAM eV laboratory, Forchheim, Germany. 2 2 表面制备工作流程连接性 保持一致的样品方向和支撑。EM TXP 和 EM TIC 3X 使用相同的样品夹具,可提高效率并减少处理步骤。确保整个表面制备工作流程的准确性和效率。 Scroll to feature 只需将样品带入工作流程 通过样品夹具的兼容性提高效率,减少处理步骤。在整个表面制备工作流程中,EM TXP 和 EM TIC 3X 使用相同的夹具。在整个制备过程中保持一致的样品安装和方向,可降低样品损坏和错位的风险。 环境敏感和/或低温样品的气氛控制工作流程示例 3 3 设计简单,可根据需求进行配置和扩展 通过易于更换的样品台实现新的实验。通过直观设计实现预期结果,减少错误和设置时间。扩展 EM TIC 3X,无需停机。 Scroll to feature 可根据需要启用新的实验范围 获得新样品台,无需售后支持或仪器停机即可扩展实验范围,即使是冷冻台也是如此。 标准样品台多样品台旋转样品台冷冻样品台真空低温传输对接站EM TIC 3X 与其他徕卡仪器兼容,包括 EM VCT500 和 EM ACE600。 通过易于更换的样品台来适应不同的工作流程。 想了解更多信息? 请咨询我们的专家。 价格 我需要产品演示、配置或价格信息。 预约演示 我需要现场或远程演示。 服务与支持 我们能为您提供什么帮助? 应用支持 我需要专业帮助/培训来支持我运作机器。 您想获取专人咨询吗? Show local contacts Loading... 您可以在这里找到详细的当地联系人名单。 您确定要关闭此表格吗? ✕ no yes 常常一起购买 类似产品 ✕