材料分析显微镜

材料分析需要显微镜解决方案,用于成像、测量和分析各种材料(例如金属合金、半导体、玻璃、陶瓷以及塑料和聚合物)的特征。无论是在质量控制、故障分析方面,还是在研发方面,这种材料分析显微镜均对不同的工业应用非常重要。
在某些情况下,不仅需要分析材料的形态或外观,还要分析其化学成分。二合一解决方案是一种光学显微镜结合激光诱导击穿光谱(LIBS)的解决方案。其可通过一台仪器同时对材料进行视觉和化学分析,意味着可以更迅速、精确、可靠地获得更多相关数据。使用二合一解决方案可使材料分析的工作流程变得更加高效。

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您可以使用材料分析显微镜解决方案观察和检查什么类型的材料和样品?

您可以使用材料分析显微镜观察微小细节,并在高分辨率下检查材料样品的特征。几乎所有类型的固态材料均可用显微镜进行观察和检查,但其通常为合金、半导体、陶瓷和聚合物。

材料分析显微镜解决方案可用于哪些应用?

材料分析显微镜可用于需要材料分析和检查的各类应用。例如包括涉及汽车、航空航天、合金、半导体、电子、医疗器械、地球科学、法医、化学工程和制药科学等行业和领域的质量控制(QC)、研发(R&D)、清洁度技术和故障分析(FA)。

传统显微镜和二合一材料分析解决方案之间有什么差异?

光学显微镜仅使用带有物镜、目镜等的光学元件对样品进行成像。二合一解决方案既使用光学元件观察样品,又使用激光和LIBS光谱检测器分析样品的化学成分。显微镜结合激光诱导击穿光谱(LIBS)可以更精简高效地进行材料分析。

常规实验室显微镜 – 徕卡倒置显微镜

按应用领域筛选
Emspira清洁度分析系统

Cleanliness Analysis Systems

清洁度分析系统具有优化的软件和独特的目视与化学分析二合一解决方案。

DM6 M LIBS 激光诱导击穿光谱

DM6 M LIBS

适用于目视检验和化学检验的材料分析解决方案

LAS X Materials Science Modules

用于金相和材料分析的高级软件模块

工业测量正置显微镜

Leica DM4 M & DM6 M 正置工业测量显微镜不仅可满足快速概览样品和详细检查样品的需求,独特、可靠的记忆功能可即时复制成像参数,轻松搞定重复性工作。

Leica DM1750 M 工业显微镜

Leica DM1750 M 工业显微镜

主要用于迅速、精确的分析出结果的工业显微镜,特别适用于检查微观划痕,或获取样品高度方面的信息

材料分析显微镜的常见问题

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