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如何提高微电子元件检测性能

克服分辨率标准-网络研讨会点播

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在检查硅片或微机电系统时,你需要看更多吗?你想得到与电子显微镜相似的清晰详细的样本图像吗?

观看这个免费的网络研讨会,了解更多关于强大的成像和对比技术,可以提高您的检查性能。您将了解如何克服分辨率标准,而不需要浸油或转移到SEM,以实现您想要的检测结果。

网络研讨会录音有英文和德文两种版本。

网络研讨会简介

核心知识点:

  • 强大的成像和对比技术背后的基础原理,将为您提供高分辨率和对比度。
  • 如何成功地将这些技术应用于日常检查工作,而无需浸油或转移到SEM。
  • 了解这些方法的组合如何帮助您提高检查性能。

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