EM TXP 横截面切割设备
EM TXP是一款机械横截面制备仪器，通过精准尺寸调控为显微观测制备理想样品。该设备可优化预处理工序，显著降低离子束研磨耗时，并为光学显微镜检测制备镜面级观测表面。
仅限于研究用途
埋藏在内部的样品结构宽离子束研磨制备方案
多模块化工具系统为各工艺环节提供专属配件，通过精确调控工具旋转倾角锁定目标区域。预切割技术可精准暴露样品内部埋层结构，有效去除冗余材料以缩短离子束研磨周期。
小盗龙（Microraptor）牙本质形态（c、d）。黑色箭头指示暴露的成牙本质细胞突横截面（标记为“odp”）。图源Wang Yan等《中生代鸟类与非鸟恐龙牙齿微结构比较研究》，《英国皇家学会开放科学期刊》，文章编号：10230147 creativecommons.org/licenses/by/4.0/
精密抛光横截面表面。
- 制备满足光学显微检测精度需求的观测表面
- 通过精密抛光工艺获得可供视觉检测的理想横截面
- 确保在体视显微镜下安全呈现样品微观结构
EM TXP抛光样品 图片版权：Kurt Fuchs Photo Design。 拍摄于德国福希海姆INAM/IKTS园区徕卡显微参考实验室Christiansen研究组
实现样品制备全流程无缝衔接。
通过支架兼容设计提升效率并简化操作步骤。EM TXP与EM TIC 3X设备共享同一套样品支架，确保样品制备全程固定方位一致性，有效降低样品损伤与位置偏差风险。
