产品 媒体 下载 应用 文章 常见问题 索取报价 EM TIC 3X 可配置的离子束切割研磨系统 EM TIC 3X 可配置的离子束切割研磨系统 索取报价 媒体 产品 媒体 下载 应用 文章 常见问题 EM TIC 3X 电镜样品制备 产品 首页 Leica Microsystems EM TIC 3X 可配置的离子束切割研磨系统 精确的表面处理。设计简洁。 旋转样品台 旋转样品台(可改装)专为大面积铣削(平面抛光)而设计。离子束制备区域超过直径 25 毫米。下载旋转台手册 标准样品台 用于常规应用和增强制备表面对比度的标准台。 多样品台 如果需要高通量,可使用多样品台。Leica EM TIC 3X 一次可加载并自动处理三个样品(如过夜),无需用户交互。 冷冻样品台 冷冻样品台提供超低温处理。样品架和挡板的温度低至 -160°C 时,可对橡胶、水溶性聚合物纤维甚至棉花糖(如需要)等热敏性极高的样品进行高质量加工。下载冷冻样品台手册 真空转移对接工作站 非常适合对环境敏感的样品进行表面处理,然后在惰性气体/真空条件下转移到镀膜仪和/或扫描电镜系统中 各种样品夹 各种样品夹具几乎适用于各种尺寸的样品,使用范围广泛,例如,一个样品夹具可用于从机械预处理(Leica EM TXP)到离子束截面切割(Leica EM TIC 3X)再到扫描电镜研究直至存储的整个过程。 旋转台样品夹具 样品夹具,用于高度不超过 12 mm的样品,以及用于商用 SEM 钉台的适配器 用于高压冷冻样品的样品夹具 有多种夹具可用于高压冷冻样品。图片左侧 - 低温样品夹具 图片右侧 - 可容纳最大 10 x 7 x 4 mm样品的低温样品夹具 Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪 用于 Leica EM TIC 3X 的旋转台 处理直径 25 mm的油页岩样本