Cleanliness Analysis Systems
更快获得结果
确保更高效地获得清洁度分析结果：
- 对于大小介于5-10微米之间的颗粒，可节省30%的过滤器样本扫描时间。
- 对于大小超过25微米的颗粒，对过滤器样本上颗粒物的扫描速度可以提高3倍。
更快地识别过滤器样本上的反光颗粒，通过优化算法更快地计算不规则形状颗粒的圆形直径。
通过自动分析多个过滤器样本的颗粒进一步简化您的工作流程，通过每批次同时分析多个过滤器来节省时间。
获得更多关于颗粒的见解
更可靠地识别“致命颗粒”。
颗粒越硬、越大，其损害潜力就越大。
- 自动区分金属和非金属颗粒。
- 轻松区分颗粒和纤维。
- 用自动化的软件工具测量颗粒高度。
将激光聚焦于污染源。
使用Cleanliness Expert软件和激光诱导击穿光谱技术(LIBS)二合一的解决方案同时进行目视检查和化学分析。
- 在同一台仪器上完成整个分析工作流程。
- 无需在样本传送和额外样本制备上浪费时间。
- 在确定微观结构成分方面节省90%的时间*。
*与传统的扫描电镜/能谱仪检查相比
灵活满足您目前和未来的工作需求
满足您目前的要求
符合国际和地区标准，包括用于汽车业的ISO 16232和VDA 19，用于液压油和机油的ISO 4406和DIN 51455，以及用于制药业的USP 788。 您还可以自行定义标准，按照组织机构的规范和流程进行分析。
满足您未来需求的方法
升级到二合一解决方案，同时进行目视检查和化学分析。 DM6 M显微镜可轻松加装激光诱导击穿光谱技术(LIBS)。
您还可以调整清洁度分析系统，用放大倍数更高的物镜来观察更小的颗粒。
根据您的需求选择合适的清洁度分析系统
根据国际和地区标准更高效可靠地进行颗粒计数和分类，选择专用的配置，以满足您的具体需求。
寻找适合您的解决方案
请回答几个简短的问题，以便我们向您推荐最符合您需求的配置。
标准系统
带有Cleanliness Expert分析软件的Emspira 3数码显微镜。
- 颗粒尺寸最小25微米
- 手动区分金属和非金属颗粒
- 颗粒的X和Y方向测量
高级系统
DM6 M显微镜、K3摄像头和Cleanliness Expert分析软件。
- 颗粒尺寸最小5微米
- 全自动识别金属和非金属颗粒并区分颗粒和纤维
- 颗粒的X、Y和Z方向测量
专业系统
配备LIBS、K3摄像头和Cleanliness Expert分析软件的DM6 M显微镜。
- 颗粒尺寸最小5微米
- 全自动识别金属和非金属颗粒并区分颗粒和纤维
- 颗粒的X、Y和Z方向测量
- 同时识别颗粒成分
- 无需传送样本和额外的样本制备
您想获取专人咨询吗？