Cleanliness Analysis Systems

更快获得结果

确保更高效地获得清洁度分析结果:

  • 对于大小介于5-10微米之间的颗粒,可节省30%的过滤器样本扫描时间。
  • 对于大小超过25微米的颗粒,对过滤器样本上颗粒物的扫描速度可以提高3倍。

更快地识别过滤器样本上的反光颗粒,通过优化算法更快地计算不规则形状颗粒的圆形直径。

通过自动分析多个过滤器样本的颗粒进一步简化您的工作流程,通过每批次同时分析多个过滤器来节省时间。

配备K3摄像头和Cleanliness Expert软件的DM6 M显微镜。
配备K3摄像头和Cleanliness Expert软件的DM6 M显微镜。

获得更多关于颗粒的见解

更可靠地识别“致命颗粒”。

颗粒越硬、越大,其损害潜力就越大。

  • 自动区分金属和非金属颗粒。
  • 轻松区分颗粒和纤维。
  • 用自动化的软件工具测量颗粒高度。

将激光聚焦于污染源。

使用Cleanliness Expert软件和激光诱导击穿光谱技术(LIBS)二合一的解决方案同时进行目视检查和化学分析。

  • 在同一台仪器上完成整个分析工作流程。
  • 无需在样本传送和额外样本制备上浪费时间。
  • 在确定微观结构成分方面节省90%的时间*。

*与传统的扫描电镜/能谱仪检查相比

灵活满足您目前和未来的工作需求

满足您目前的要求

符合国际和地区标准,包括用于汽车业的ISO 16232和VDA 19,用于液压油和机油的ISO 4406和DIN 51455,以及用于制药业的USP 788。 您还可以自行定义标准,按照组织机构的规范和流程进行分析。

满足您未来需求的方法

升级到二合一解决方案,同时进行目视检查和化学分析。 DM6 M显微镜可轻松加装激光诱导击穿光谱技术(LIBS)。

您还可以调整清洁度分析系统,用放大倍数更高的物镜来观察更小的颗粒。

用LIBS系统进行清洁度分析。
用LIBS系统进行清洁度分析。

寻找适合您的解决方案

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根据您的需求选择合适的清洁度分析系统

根据国际和地区标准更高效可靠地进行颗粒计数和分类,选择专用的配置,以满足您的具体需求。

寻找适合您的解决方案

请回答几个简短的问题,以便我们向您推荐最符合您需求的配置。

启动向导

标准配置

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标准系统

带有Cleanliness Expert分析软件的Emspira 3数码显微镜。

  • 颗粒尺寸最小25微米
  • 手动区分金属和非金属颗粒
  • 颗粒的X和Y方向测量

高级配置

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高级系统

DM6 M显微镜、K3摄像头和Cleanliness Expert分析软件。

  • 颗粒尺寸最小5微米
  • 全自动识别金属和非金属颗粒并区分颗粒和纤维
  • 颗粒的X、Y和Z方向测量

专业配置

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专业系统

配备LIBS、K3摄像头和Cleanliness Expert分析软件的DM6 M显微镜。

  • 颗粒尺寸最小5微米
  • 全自动识别金属和非金属颗粒并区分颗粒和纤维
  • 颗粒的X、Y和Z方向测量
  • 同时识别颗粒成分
  • 无需传送样本和额外的样本制备

有兴趣了解更多?

请与我们的专家交流。 我们很乐意回答您的所有问题和疑虑。

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