Visoria P、DM750P和DM4P 偏光显微镜
如果您想要研究晶体结构，偏光显微镜将是您的较好选择。无论是矿物、塑料和聚合物、药物药品或燃料和接合剂，徕卡正置偏光显微镜都能帮助您观察到感兴趣的内容，完成您的研究或质量控制任务。
徕卡正置偏光显微镜助您获得高质量结果
您需要一些组件来实现偏光研究目标。以下都是重要的组件：
- 无应力光学部件，因为您需要确保观测到的双折射来自样品而非光学部件
- LED 照明至关重要，因为这种照明能够均匀照亮样品，并具有恒定的色温
- 偏光镜帮助您看到双折射，旋转台帮助您对准样品和光轴
- 您还需要用于对光轴进行锥光观察的勃氏镜和用于测量任务的补偿器
了解更多关于Science Lab显微知识库偏光显微观察相关的知识。
两种照明物尽其用
您可以为徕卡偏光显微镜配置透射光或反射光LED照明，也可以为其同时配置透射光和反射光LED照明。
- 进行反射率测量时必须使用入射光，例如观察矿石或煤炭。
- 进行双折射测量时则需要使用透射光，例如检测地质薄片、聚合物薄膜或药品。
- 在地质研究等特殊应用中，两种光都必不可少。
当显微镜配置为使用入射光和透射光两种光时，相关物镜 (带或不带盖玻片校正功能) 应从 >10 倍的放大倍率开始使用。
让物镜转盘来应对！
物镜转盘配备 6 个物镜并具有不同放大倍率，获取丰富的样品信息。
- 使用 2.5 倍概览物镜可识别样品中的宏观结构
- 如要借助锥光法对光学属性进行详尽研究，可切换为 63 倍放大倍率
- 切换至 100 倍可以沿颗粒边界检验相反应
而且物镜转盘也是编码的，可为您提供智能支持。
研究光学属性
锥光法用于研究干涉图。这些图的形状和由补偿器进行的修改可以生成有关研究材料光学属性方面的信息。您可以测定材料的光轴数量、光轴角度和光学特性。
方解石厚片的单轴干涉图，垂直于光轴
黑云母晶体薄片圆偏光双轴干涉图，对角位置。光轴位置清晰可辨
Leica DM4 P 非常适用于锥光法
- 具有高放大倍率和高数值孔径的无应力物镜是该项应用的必备条件。
- 使用特殊 63 倍徕卡物镜，能满足偏振等级 5 的最高要求，从而获取优质结果。
使用透射光、锥形镜、63 倍 N Plan 物镜和偏振光拍摄的 DM4 P 显微镜图像
您可以从三种不同的偏光显微镜系统中进行选择
根据不同的应用，您可以从三种不同的偏光显微镜系统中进行选择
- 完全编码的半自动 Leica DM4 P
- 手动 Leica DM2700 P
- Leica DM750 P 教学显微镜
您的选择：Leica DM4 P
借助编码的功能性，可灵活适应各种任务，操作安全简单，适用于学术研究、操作新手或多用户环境
- 6 位编码可调中物镜转盘
- 照明和对比度管理，获得可再现结果
- 编码锥光法，采用 1.6 倍放大倍率调节器
- LED 照明状态显示
- 360° 旋转台，带或不带 45° 卡位装置
- 无应力光学部件
- 偏振设备范围广泛
- 固定或可变补偿器，符合 DIN 58879
您的选择：徕卡Visoria P
使用编码的功能、优化的光强设置及其他显微镜功能可以提高您的工作流程效率。此外，显微镜的人体工学设计让您能更加舒适地工作，最大限度减少劳损。
- 编码式5孔可调中心物镜转盘
- UC-3D照明
- 使用照明管理功能获得可重复的结果
- 彩色编码光圈辅助装置
- 内置对焦限位装置
- 三齿轮聚焦装置
- LED照明
- 各种锥光模块
- 无应力光学器件
- 360°旋转台（带或不带45°卡位装置）
- 各种偏光设备
- 符合DIN 58879标准的固定式和可变式补偿器
您的选择：Leica DM750 P
实用、灵活、坚固耐用，令教学充满乐趣！
- 集成手柄和电源线收集盒，轻松储存
- 内置 2 个补偿器和物镜调中工具的储存位置，轻松存取
- 178-mm 大旋转台，轻松查看台标记
- 激光镌刻台标记，经久耐用
- 4 个独立的可调中物镜位置，用于在中心旋转样品
