材料科学样品制备

An excellent sample preparation is key for observing the finest textures and details on the sample surface in high resolution. The right workflow and tools for the pre-preparation will not only lead to an excellently prepared sample, it will also reduce the procedure time, streamline the workflow, and produce reliable and precise results. The Leica solution consists of several instruments that are perfectly geared to one another to form a seamless workflow for your sample preparation. So be prepared for better results with Leica Microsystems in less time!

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标靶面:加快速度,质量如一

谈到材料科学,人们可能首先会想到样品制备,而质量和速度对于样品制备是不可取舍的两项要素。和其他材料处理领域一样,在从前期工作转换到精整的过程中,合理的工具切换有助于加快和更好地控制后续步骤。

徕卡公司的 EM TXP 系统是在样品检查前进行标靶面抛光的专用工具, 是接近感兴趣区域进行最终制备的明智选择。铣削、锯切、研磨和抛光,全部都可在 EM TXP 系统这一台仪器上完成。它对具有挑战性的样品表现出色,可轻松瞄准制备几乎看不见的标靶。内置的体视显微镜可直接实现表面精整和标靶检查。

其他阅读资料

文章:Inspection of Multilayer Coating in the Automotive Industry (汽车行业中的多层涂层检查)

See how to cut by half the sample preparation time for IC gold wire bonding

高质量表面抛光协作

如果您需要高质量表面抛光,请在机械切割和抛光后使用 EM TIC 3X 三离子束切割仪。得益于理想的预处理,您可在使用离子束进行最终制备时节省大量时间。将楔形掩膜置于非常接近标靶区域的位置,主要通过离子束铣削工艺去除机械制备步骤留下的所有残余伪影

EM TIC 3X 切割仪可生成各种切片和平面,适用于扫描电子显微法 (SEM)、显微结构分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD)、AFM 和入射光显微法研究。

切片协作

如果您想要使用形状完好的块面样品制备边缘锐利的切片,使用 EM TXPEM TRIM2EM RAPID 切割仪对材料的表面质量有相当大的影响。使用徕卡公司的 EM UC7 超薄切片机,可轻松制备半薄和超薄切片,还可为 TEM、SEM、AFM 和 LM 检查制备表面非常光滑的样品。

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Sample Preparation of Nanocomposites and Nanomaterials by Ultramicrotomy - a Powerful Alternative to FIB (使用超薄切片术进行纳米复合材料和纳米材料的样品制备 — 性能强大的 FIB 替代方案)

Cutting Aluminium with the EM UC7 Ultramicrotome from Leica

电子显微法涂层技术

在使用 SEM 或 TEM 成像法时,陶瓷、聚合物等低导电性或非导电性样品材料需要碳涂层或金属涂层。徕卡公司推出的 EM ACE600 等多功能镀碳机可为原子级分辨率成像提供超薄碳膜。厚度均匀的导电涂层可避免电荷聚集在样品上,并提供足够的强度来抵抗电子轰击。EM ACE600 高真空镀膜机可配置用于:溅镀、碳线蒸镀、碳棒蒸镀、电子束蒸镀和辉光放电。

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Brief Introduction to Coating Technology for Electron Microscopy (电子显微法涂层技术简介)

Ways to Reveal More from your Samples: Ultra-Thin Carbon Films - Application Note for Leica EM ACE600 - Material Research (揭示样品更多秘密的方法:超薄碳膜 — Leica EM ACE600 应用说明 — 材料研究)

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