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电子显微镜碳厚度
在电子显微镜样品镀膜时，石英晶振片可控制镀膜的厚度。这些晶振片一定的频率（新晶体时约为6兆赫）进行振荡。通过测量镀膜前和镀膜后的频率、镀膜材质比重和石英的几何位置，可以计算出应用厚度。
电子显微镜碳厚度
在电子显微镜样品镀膜时，石英晶振片可控制镀膜的厚度。这些晶振片一定的频率（新晶体时约为6兆赫）进行振荡。通过测量镀膜前和镀膜后的频率、镀膜材质比重和石英的几何位置，可以计算出应用厚度。